New Challenges for Low Cost and High Speed RF ATE System

새로운 저가형 고속 RF 자동화 테스트 시스템

  • Song, Ki-Jae (RF System Lab., ASE Korea, Inc., Department of Radio Science and Engineering, Kwangwoon University) ;
  • Lee, Ki-Soo (RF System Lab., ASE Korea, Inc.) ;
  • Park, Jongsoo (RF System Lab., ASE Korea, Inc.) ;
  • Lee, Jong-Chul (Department of Radio Science and Engineering, Kwangwoon University)
  • Published : 2004.08.01


This paper presents the implementation of the low cost and high speed RF ATE(Automatic Test Equipment) system, which can be a reasonable solution for reducing the test cost of RF devices. This paper suggests high speed and precise measurement capabilities which are realized by the 16 independent RF ports with high speed switching time and high accuracy digitizer using the industry standard Versus module eXtensions for Instrument(VXI) General Purpose Interface Bus(GPIB) interfaces. Also, the system has the capabilities of quad-site test which can dramatically increase the device throughput. This paper concludes with the demonstration of the implemented ATE system through the setup of RF Power Amplifier Module(PAM), which is under the most competitive market situation.

본 논문에서는 RF소자들의 테스트시 비용 절감을 극대화 할 수 있는 저가형 고속 RF 자동화 테스트 시스템(Automatic Test Equipment, ATE)의 제작에 관하여 다루어진다. 제작된 RF ATE는 고속의 스위칭 시간과 고정밀 디지타이저를 포함한 16개의 독립적인 RF 입출력 단자를 갖고 있으며 산업 표준인 VXI(Versus module eXtensions for Instrument)와 GPIB(General Purpose Interface Bus) 인터페이스를 사용하여 구성된다. 또한 소자의 생산효율을 극대화하기 위하여 동시에 4개의 소자를 테스트할 수 있도록 시스템이 구성된다. 마지막으로 현재 가격 경쟁이 상당히 심한 소자 중 하나인 RF 전력증폭모듈올, 제작된 RF ATE를 이용하여 테스트를 진행하여 시스템 성능을 검증한다.



  1. An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement M. Burns;G. W. Roberts
  2. CDMA Systems Engineering Handbook J. S. Lee;L. E. Miller
  3. Numerical Recipes in $C^{++}$(2nd Ed.) W. H. Press;S. A. Teukolsky;W. T. Vetterling;B. P. Flannery
  4. Digital Signal Processing(2nd Ed.) E. C. Ifeachor;B. W. Jervis
  5. Proc. IRE v.32 no.7 H. T. Friis