A Point of Production System for Semiconductor Wafer Dicing Process

반도체 웨이퍼 다이싱 공정을 위한 생산시점 정보관리시스템

  • 김인호 (동명대학교 기계공학과)
  • Published : 2009.10.31

Abstract

This paper describes a point of production(POP) system which collects and manages real-time shop floor machining information in a wafer dicing process. The system are composed of POP terminal, line controller and network. In the configuration of the system, LAN and RS485 network are used for connection with the upper management system and down stratum respectively. As a bridge between POP terminal and server, a line controller is used. The real-time information which is the base of production management are collected from information resources such as machine, product and worker. The collected information are used for the calculation of optimal cutting condition. The collection of the information includes cutting speed, spout of pure water, accumulated count of cut in process for blade and wafer defect. In order to manage machining information in wafer dicing process, production planning information is delivered to the shop floor, and production result information is collected from the shop floor, delivered to the server and used for managing production plan. From the result of the system application, production progress status, work and non-working hour analysis for each machine, and wafer defect analysis are available, and they are used for quality and productivity improvements in wafer dicing process. A case study is implemented to evaluate the performance of the system.

본 연구는 웨이퍼 다이싱 공정의 가공정보들을 수집하여 실시간으로 관리하는 생산시점의 정보관리시스템에 대한 연구이다. 개발한 시스템은 POP용 단말기, 라인 컨트롤러 및 네트웍으로 구성된다. LAN은 상위관리시스템을 연결하며, RS485 네트웍은 하위시스템인 라인 컨트롤러와 단말기를 연결한다. 라인 컨트롤러는 POP 단말기와 서버를 연결하기 위해 사용된다. 웨이퍼의 실시간 가공정보는 기계, 제품, 작업자의 정보발생원들로부터 얻고, 이들은 최적절삭조건을 계산하기 위하여 사용된다. 수집된 정보는 절삭속도, 순수의 여부, 처리 중인 블레이드의 누적 절삭량 및 불량 웨이퍼의 수이다. 상위시스템의 생산계획정보는 웨이퍼 가공공정의 관리를 위해서 현장에 전달되며, 생산결과정보는 현장에서 수집하여 서버로 전달되고 필요한 형태로 정보가 가공되어 공정관리용 정보로 사용된다. 개발한 시스템을 반도체 웨이퍼 가공공정에 적용한 결과, 생산진전상태, 각 기계에 대한 작업시간 및 비작업시간의 해석 및 웨이퍼 불량률의 해석이 가능하며, 이들은 다이싱 공정의 품질 및 생산성 향상을 위한 생산공정 관리정보로 활용할 수 있을 것이다.

Keywords

References

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