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누화 특성 감소를 위한 MEMS 프로브 커넥터 시스템의 설계

Design and Crosstalk Analysis of MEMS Probe Connector System

  • 배현주 (성균관대학교 전자전기컴퓨터공학과) ;
  • 김종현 (성균관대학교 전자전기컴퓨터공학과) ;
  • 이준상 (성균관대학교 전자전기컴퓨터공학과) ;
  • ;
  • 이재중 (성균관대학교 전자전기컴퓨터공학과) ;
  • 나완수 (성균관대학교 전자전기컴퓨터공학과)
  • Bae, Hyeon-Ju (Department of Electronical and Computer Engineering, Sungkyunkwan University) ;
  • Kim, Jong-Hyeon (Department of Electronical and Computer Engineering, Sungkyunkwan University) ;
  • Lee, June-Sang (Department of Electronical and Computer Engineering, Sungkyunkwan University) ;
  • Pu, Bo (Department of Electronical and Computer Engineering, Sungkyunkwan University) ;
  • Lee, Jae-Joong (Department of Electronical and Computer Engineering, Sungkyunkwan University) ;
  • Nah, Wan-Soo (Department of Electronical and Computer Engineering, Sungkyunkwan University)
  • 투고 : 2011.11.14
  • 심사 : 2012.01.11
  • 발행 : 2012.02.29

초록

본 논문에서는 프로브 커넥터 핀의 누화 특성이 -30 dB 이하를 만족시키는 핀의 피치 및 길이 파라미터에 대한 설계 기준을 제시하였다. 프로브 커넥터 핀의 누화 특성을 분석하기 위하여 격자 구조로 배열된 프로브커넥터 핀의 인덕턴스 성분과 커패시턴스 성분을 추출하였으며, 접지 핀의 개수가 증가해도 이미 계산된 파라미터들을 이용해서 새로운 커패시턴스 및 인덕턴스 성분들을 쉽게 계산할 수 있음을 보였다. 또한, 신호(signal)핀 주변에 위치한 접지(ground) 핀 개수를 증가시키면서 누화 특성을 향상시키는 알고리즘을 제시하였으며, 특히 접지 핀 개수의 증가가 자기장 결합(inductive coupling)에 의한 누화를 효과적으로 제거시킨다는 것을 보였다. 최종적으로는 주어진 접지 핀 개수 및 형상 하에서 -30 dB 이하의 누화 특성을 만족하는 핀의 피치 및 길이를 결정하는 영역을 도시하였으며, 이는 프로브 커넥터 시스템의 누화 특성 설계 시 유용하게 사용할 수 있을 것으로 사료된다.

키워드

Coupling;Crosstalk;MEMS;Parameter Extraction;Signal Integrity

참고문헌

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