• Title, Summary, Keyword: 결함

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A TFT-LCD Defect Detection Method based on Defect Possibility using the Size of Blob and Gray Difference (블랍 크기와 휘도 차이에 따른 결함 가능성을 이용한 TFT-LCD 결함 검출)

  • Gu, Eunhye;Park, Kil-Houm
    • Journal of the Korea Industrial Information Systems Research
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    • v.19 no.6
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    • pp.43-51
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    • 2014
  • TFT-LCD image includes a defect of various properties. TFT-LCD image have a recognizable defects in the human inspector. On the other hand, it is difficult to detect defects that difference between the background and defect is very low. In this paper, we proposed sequentially detect algorithm from pixels included in the defect region to limited defects. And blob analysis methods using the blob size and gray difference are applied to the defect candidate image. Finally, we detect an accurate defect blob to distinguish the noise. The experimental results show that the proposed method finds the various defects reliably.

Early Multiple Fault Identification of Low-Speed Rolling Element Bearings (저속 구름 베어링의 다중 결함 조기 검출)

  • Kang, Hyunjun;Jeong, In-Kyu;Kang, Myeongsu;Kim, Jong-Myon
    • Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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    • pp.749-752
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    • 2014
  • 본 논문에서는 저속으로 동작하는 구름 베어링의 다중 결함 조기 검출을 위해 결함 특징 추출, 효과적인 특징 선택, 선택된 특징을 이용한 결함 분류의 세 단계로 구성된 결함 진단 기법을 제안한다. 1단계에서 이산 웨이블릿 변환을 이용하여 미세성분으로부터 통계적 결함 특징을 추출하고, DET(distance evaluation technique)를 이용하여 추출한 결함 특징 가운데 베어링 다중 결함 검출에 효과적인 특징을 선택한다. 마지막으로 선택된 특징을 k-NN(k-Nearest Neighbors) 분류기 입력으로 사용함으로써 결함을 진단한다. 본 논문에서는 제안한 결함 진단 기법의 성능을 분류 정확도 측면에서 평가한 결과 95.14%의 높은 분류 정확도를 보였다.

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LCD Defect Detection using Neural-network based on BEP (BEP기반의 신경회로망을 이용한 LCD 패널 결함 검출)

  • Ko, Jung-Hwan
    • 전자공학회논문지 IE
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    • v.48 no.2
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    • pp.26-31
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    • 2011
  • In this paper we show the LCD simulator for defect inspection using image processing algorithm and neural network. The defect inspection algorithm of the LCD consists of preprocessing, feature extraction and defect classification. Preprocess removes noise from LCD image, using morphology operator and neural network is used for the defect classification. Sample images with scratch, pinhole, and spot from real LCD color filter image are used. From some experiments results, the proposed algorithms show that defect detected and classified in the ratio of 92.3% and 94.5 respectively. Accordingly, in this paper, a possibility of practical implementation of the LCD defect inspection system is finally suggested.

Fault Detection of Ceramic Imaging using K-means Algorithm (K-means 알고리즘을 이용한 세라믹 영상에서의 결함 검출)

  • Kim, Kwang Beak;Woo, Young Woon
    • Proceedings of the Korean Society of Computer Information Conference
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    • pp.275-277
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    • 2014
  • 본 논문에서는 세라믹 소재 영상에 가우시안 필터링 기법을 적용하여 잡음을 제거하고, K-means 알고리즘을 적용하여 결함 영역을 세분화 한 뒤, 세분화된 결함 영역에 Max-Min 이진화 기법을 이용하여 결함 영역을 추출한 후, 형태학적 기법을 이용하여 잡음을 제거하고 결함을 추출한다. 제안된 방법을 세라믹 소재 영상을 대상으로 실험한 결과, 기존의 방법보다 효율적으로 결함이 검출되는 것을 확인하였다.

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Software Fault Localization using Artificial Neural Network (인공신경망을 활용한 소프트웨어 결함 위치 추정 기법)

  • Jo, Jun-Hyuk;Lee, Jihyun;Jaffari, Aman
    • Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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    • pp.550-553
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    • 2018
  • 소프트웨어 시험 후 발견된 결함을 제거하기 위해서는 먼저 해당 결함의 위치를 정확히 찾아야 한다. 결함의 위치를 찾는 작업은 많은 양의 소스코드를 검토해야 하기 때문에 많은 노력을 요구한다. 해당 노력을 줄이기 위해 슬라이싱 기법, 스펙트텀 기법, 모델 기반 기법 등 많은 기법들이 연구되었다. 하지만 이들 연구들은 결함 위치로 추정한 탐색 영역의 범위가 넓어 결과의 효과가 떨어지는 단점이 있다. 그래서 결함 위치 추정의 정확도를 높이고 결함 위치 파악의 효과를 높이기 위해 본 논문은 프로그램 소스 코드 문장에 대한 시험 케이스의 커버리지 정보, 시험의 PAss/Fail 여부, Define-Use의 관계에 있는 문장 정보를 활용하여 각 문장의 결함 의심도를 산출하는 방법을 제안한다. 제안 방법을 실험을 통하여 확인한 결과, 낮은 지역화 비용으로 결함 위치 추정을 할 수 있었다.

Distributed Fault-Tolerant System using Dual Channel Ethernet (이중 채널 이더넷을 이용한 분산 결함 허용 시스템)

  • 최보곤;김진용;함명호;신현식
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • pp.307-309
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    • 2002
  • 고가용성 및 고신뢰성의 분산 결함 허용 시스템의 설계와 구현에 대해서 다룬다. 이 시스템은 관리자 노드와 작업 노드 풀로 노드들을 구성하고, 각각의 노드들은 결함 허용 네트웍을 통해 통신을 하게 된다. 이 결함 허용 네트웍은 두 개의 네트웍이 중복되게 구성되어 한 네트웍의 결함 시에도 정상적인 데이터 교환을 보장한다. 여기서 중복된 네트웍을 위한 결함 검출 복구 기법이 필요하고 이들 관리자 노드와 작업 노드들의 관리를 위해 결함 허용 미들웨어가 포함된다. 미들웨어의 기능에 적응형 결함 허용 기법을 도입하여 실행 시간에 결함 허용 모드를 선택할 수 있게 하고, 결과적으로 보다 높은 가용성과 신뢰성의 결함 허용 시스템을 구성하였다.

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Ultrasonic Flaw Sizing Techniques (초음파 결함 크기 측정 기법)

  • Park, Moo-Ho
    • Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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    • v.19 no.6
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    • pp.448-453
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    • 1999
  • 원전의 열성층 현상으로 발생하는 열 피로균열 및 입계응력부식균열(IGSCC) 등은 결함에 대해서 검사자의 특별한 관심과 노력 없이는 초음파를 이용해 이러한 종류의 결함검출 및 크기 측정이 쉽지 않다. 이러한 결함의 검출 및 크기 측정을 위해서 먼저 초음파 모드 변환 기법을 사용하여 결함 검출 및 결함 크기를 분류한 후에 결함 끝단에서의 초음파 회절파(tip diffraction)를 이용한 여러 가지의 초음파 기법 둥으로 정확한 결함 크기를 측정하여 가동전 중점검시 발견된 결함의 추적 관리 및 결함평가신뢰도 향상에 기여하고자 한다. 따라서, 여기서는 열 피로균열 및 입계응력부식균열 등과 같은 결함의 정확한 검출 및 크기 측정을 위해 초음파 모드 변환 기법의 특성을 철저히 이해하고 이에 관련된 초음파 신호들을 정확히 구분할 수 있는 방법을 기술하였다.

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Aberration Extraction Algorithm for LCD Defect Detection (대면적 LCD 결함검출을 위한 수차량 추출 알고리즘)

  • Ko, Jung-Hwan;Lee, Jung-Suk;Won, Young-Jin
    • 전자공학회논문지 IE
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    • v.48 no.4
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    • pp.1-6
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    • 2011
  • In this paper we show the LCD simulator for defect inspection using image processing algorithm and neural network. The defect inspection algorithm of the LCD consists of preprocessing, feature extraction and defect classification. Preprocess removes noise from LCD image, using morphology operator and neural network is used for the defect classification. Sample images with scratch, pinhole, and spot from real LCD color filter image are used. From some experiments results, the proposed algorithms show that defect detected and classified in the ratio of 92.3% and 94.5 respectively. Accordingly, in this paper, a possibility of practical implementation of the LCD defect inspection system is finally suggested.

Influence of the interface defect density on silicon heterojunction solar cells (실리콘 이종접합 태양전지에서 계면 결함 밀도의 영향)

  • Kim, Chan Seok;Lee, Seunghun;Tak, Sung Ju;Choi, Suyoung;Boo, Hyun Pil;Lee, Jeong Chul;Kim, Donghwan
    • 한국신재생에너지학회:학술대회논문집
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    • pp.103.1-103.1
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    • 2011
  • 실리콘 이종접합 태양전지에서 계면 결함 밀도는 효율을 결정하는데 가장 중요한 요인으로 작용한다. 계면 결함은 캐리어의 재결합 위치로 작용하여, 계면 결함 밀도가 증가하면 재결합 속도가 증가하게 된다. 흡수층으로 사용되는 실리콘 웨이퍼 (결정질 실리콘)를 가능한 깨끗하게 세정함으로써, 또한 emitter로 쓰이는 비정질 실리콘을 낮은 데미지로 증착하여 계면 결함 밀도를 감소 시킬 수 있다. 이러한 계면 결함 밀도의 감소가 어떠한 변화로 인해 태양전지 특성에 영향을 주는지 시물레이션을 통해 알아보았다. n-type 웨이퍼에 p-type 비정질 실리콘을 emitter로 하여 TCO/p/i/n-type wafer/i/n/TCO/metal의 구조를 적용했고, wafer 전면과 i로 쓰인 무첨가된 비정질 실리콘 간의 계면 결함 밀도를 변수로 적용했다. 그 결과, 계면 결함 밀도가 감소함에 따라 재결합이 감소하여 태양전지 특성이 증가하는 측면도 있지만, 흡수층의 장벽 (barrier height)이 높아져 재결합을 더욱 감소시킴으로 인해 태양전지 특성이 증가함을 알 수 있었다.

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Detection Method of Non-Destructive Flaws using X-ray Images of Ceramic Plate (세라믹 철판의 X-Ray 영상을 이용한 비파괴 결함 검출 방법)

  • Kim, Ju-hyeok;Choi, Sung-Su;Lee, Chae-Hong;Shin, Byung-Chu;Kim, Kwang-Baek
    • Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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    • pp.82-83
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    • 2012
  • 본 논문에서는 세라믹을 비파괴 검사하여 얻어진 영상에서 세라믹의 결함을 검출하는 방법을 제안한다. 비파괴 검사를 통하여 얻어진 영상의 윤곽선을 추출하기 위하여 Prewitt 마스크를 적용한다. 그리고 비파괴 검사 영상의 잡음 비율을 최소화하기 위해 결함이 겹쳐진 윤곽선을 기준으로 감마 처리를 수행하고 임계치 이진화 기법을 적용하여 구간별로 결함을 검출한다. 구간별 결함을 통합하여 결함을 검출한다. 검출한 결함에 Grassfire 기법을 적용하여 미세한 잡음을 제거한다. 본 논문에서 제안된 방법의 성능을 평가하기 위해 비파괴 검사에 적용되는 영상을 대상으로 실험한 결과, 제안된 방법이 기존의 결함 검출 방법보다 결함 검출에 있어서 효과적인 것을 확인하였다.

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