• Title, Summary, Keyword: 결함

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Performance Evaluation of the Roll-back Recovery on the Cluster System with SIOS (SIOS 기반의 저장 장치를 사용하는 클러스터 시스템의 결함 회복 성능 평가)

  • Yu, Taek-Geun;Chang, Yun-Seok
    • Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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    • pp.773-776
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    • 2007
  • 클러스터 시스템에서 결함이 발생하였을 때, 결함 회복 성능은 매우 중요한 설계 요소가 된다. 단일 입출력 공간(SIOS)을 저장 장치로 사용하는 클러스터 시스템에서, 각 노드들의 결함허용정보를 주기적으로 저장하는 roll-back 결함회복 기법을 사용하는 경우, 결함 회복 성능은 SIOS가 제공하는 입출력 병렬성과 깊은 관계가 있다. 본 연구에서는 클러스터 시스템의 SIOS 구성에 참여하는 노드 수에 따른 결함 회복 성능을 HPL 벤치마크를 통하여 여러 환경에서 평가하고, 그 결과를 분석하였다. 성능 평가 수행 결과, 클러스터 시스템은 SIOS 구성에 참여하는 노드의 수가 증가할수록 우수한 결함 회복 성능을 보인다. 따라서 SIOS를 결함허용정보 저장 장치로 사용하는 클러스터 시스템을 설계할 경우, SIOS 구성에 참여하는 노드 수가 클러스터 시스템의 결함 회복 성능을 결정하는 데에 중요한 요소가됨을 알 수 있다.

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Development of System Management Facility using Fault Diagnosis Methodology (결함 진단 기법을 사용한 시스템관리기능개발)

  • 옥을석;고정국;김길용
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • pp.51-53
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    • 1998
  • 컴퓨터 시스템이 복잡해짐에 따라 결함이 발생할 경우 관리자가 직접 결함을 진단하고 처리하기가 쉽지 않다. 본 논문에서는 이러한 문제점에 대한 해결책으로 결함 진단 기법을 사용한 시스템 관리 기능을 개발하였다. 개발된 시스템 관리 기능은 소프트웨어 기법을 사용하여 시스템 동작 중 발생한 결함의 증상을 분석, 진단함으로써 결함에 대한 해결방안을 자동적으로 관리자에게 제시할 수 있는 능력을 구비하고 있다. 클라이언트-서버 구조로 구현되 시스템 관리 기능은 소프트웨어 기법을 활용하기 때문에 추가적인 비용이 소요되지 않고도 기존 컴퓨터 시스템의 결함 관리 서비스에 활용될 수 있다.

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Hypercube Diagnosis Algorithm for Large Number of Faults (다중의 결함을 갖는 하이퍼큐브 진단 알고리즘)

  • 최혜연;김동군;이충세
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • pp.878-880
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    • 2003
  • 대부분의 진단 알고리즘은 PMC 모델을 바탕으로 결함의 개수가 t개를 초과하지 않는다는 t-진단가능 시스템의 특성을 이용한다. 하지만, 병렬처리 시스템의 규모가 커짐에 따라 시스템 내에서 발생되는 결함의 빈도가 높아지게 된다. 즉, 진단 알고리즘에서 가정하는 결함의 개수 t는 병렬처리 시스템 안에 있는 노드의 수에 비해 상당히 작은 개수이며, 결함의 개수가 t를 초과할 경우는 거의 고려하지 않았다. 본 논문에서는 결함의 개수가 t개를 초과하는 경우에 대하여 진단의 정확여부를 판단할 수 없는 충분히 작은 개수의 노드가 존재한다는 것을 허락함으로서, 진단 가능한 결함의 최대 수를 증가시키는 알고리즘을 제안한다.

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Detection of the Defect on the Metal Surface Using the Modulated Microwave (변조 고주파에 의한 금속표면 결함 검출)

  • Joo, G.T.;Jung, S.H.;Song, K.Y.;Kim, J.O.
    • Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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    • v.19 no.3
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    • pp.173-179
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    • 1999
  • The defects on the metal surface. such as the ended circular pressed hole. the penetrated circular drilled hole, and the linear hollow lanes have been investigated by means of the microwave. In this experiment, frequency was set at 9.2GHz with 3kHz modulation, and the methods of reflection, transmission, fixed carrier frequency, and mod-demodulated technique have been used for investigating defects. The magnitudes of the microwave signals have been changed at the ended circular pressed hole and the penetrated circular drilled hole. The defect sizes that were estimated from the reflected microwave signals had the dimensions enlarged by twice the original size of the penetrated circular drilled hole and 2.5 times the original size of the ended circular pressed hole. The magnitudes of the reflected microwave signals from the linear hollow lane have increased with expansion of the width of the notch. In the linear hollow lane with the depth of 2.4mm, the reflected microwave signals versus the defect widths had a maximum value at the defect width of 50mm, and in the linear hollow lanes with the depths of 1.2mm and 0.45mm, the reflected microwave signals versus the defects widths had the maximum values each at the defect depths of 55mm.

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A Film-Defect Inspection System Using Image Segmentation and Template Matching Techniques (영상 세그멘테이션 및 템플리트 매칭 기술을 응용한 필름 결함 검출 시스템)

  • Yoon, Young-Geun;Lee, Seok-Lyong;Park, Ho-Hyun;Chung, Chin-Wan;Kim, Sang-Hee
    • Journal of KIISE:Databases
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    • v.34 no.2
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    • pp.99-108
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    • 2007
  • In this paper, we design and implement the Film Defect Inspection System (FDIS) that detects film defects and determines their types which can be used for producing polarized films of TFT-LCD. The proposed system is designed to detect film defects from polarized film images using image segmentation techniques and to determine defect types through the image analysis of detected defects. To determine defect types, we extract features such as shape and texture of defects, and compare those features with corresponding features of referential images stored in a template database. Experimental results using FDIS show that the proposed system detects all defects of test images effectively (Precision 1.0, Recall 1.0) and efficiently (within 0.64 second in average), and achieves the considerably high correctness in determining defect types (Precision 0.96 and Recall 0.95 in average). In addition, our system shows the high robustness for rotated transformation of images, achieving Precision 0.95 and Recall 0.89 in average.

Sequential Defect Detection According to Defect Possibility in TFT-LCD Panel Image (TFT-LCD 패널 영상에서 결함 가능성에 따른 순차적 결함 검출)

  • Lee, SeungMin;Kim, Tae-Hun;Park, Kil-Houm
    • Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers
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    • v.51 no.4
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    • pp.123-130
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    • 2014
  • In TFT-LCD panel images, defects are typically detected by using a large difference in the brightness compared to the background. In this paper, we propose a sequential defect detection algorithm according to defect possibility caused by difference of brightness. By using this method, pixels with high defect probabilities are preferentially detected and defects with a large brightness difference are accurately detected. Also, limited defects with a small brightness difference is detected more reliably, eventually minimizing the degree of over-detection. We have experimentally confirmed that our proposed method showed an excellent detection result for detecting limited defects as well as defects with a large brightness difference.

Development of the System Controller for Multi Functional Motor Protection (다기능 모터보호장치를 위한 시스템 제어기 구현)

  • Seo, Ji-Yun;Kim, Hyun-Su;Jung, Sung-Hak;Jeong, Do-Un
    • Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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    • pp.830-832
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    • 2016
  • 본 연구에서는 일반 산업현장에서 동력원으로 가장 편리하게 사용하고 있는 장치인 모터의 결함을 사전에 모니터링하기위한 연구를 수행하였다. 기존의 EOCR(electronic over Current relays)을 통해 모터의 전기적 결함에 따른 모터보호 및 전기적 결함측정뿐만 아니라 모터의 절연저항, 구동시간, MC(magnet contactor) 접점횟수, 베어링온도측정, 모터회전수 측정 등 전기적 결함과 기계적 결함을 동시에 모니터링 할 수 있는 다기능 모터보호장치를 구현하고자 하였다. 이를 위하여 다기능 모터보호장치의 데이터입력 및 제어장치, 디스플레이 및 인터페이스 장치를 구현하였고, 실제 MCC시스템과의 연동을 통해 동작특성평가를 수행하였다. 인위적인 전기적 결함 및 기계적 결함을 유발시키고 이를 검출하는 모의실험을 수행한 결과 전기적 결함과 기계적 결함 각각에 대해 100% 검출 가능함을 확인하였다.

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An Experiment for Determining Threshold of Defect Prediction Models using Object Oriented Metrics (객체지향 메트릭을 이용한 결함 예측 모형의 임계치 설정에 관한 실험)

  • Kim, Yun-Kyu;Chae, Heung-Seok
    • Journal of KIISE:Computing Practices and Letters
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    • v.15 no.12
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    • pp.943-947
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    • 2009
  • To support an efficient management of software verification and validation activities, many defect prediction models have been proposed based on object oriented metrics. In order to apply defect prediction models, we need to determine a threshold value. Because we cannot know actually where defects are, it is difficult to determine threshold. Therefore, we performed a series of experiments to explore the issue of determining a threshold. In the experiments, we applied defect prediction models to other systems different from the system used in building the prediction model. Specifically, we have applied three models - Olague model, Zhou model, and Gyimothy model - to four different systems. As a result, we found that the prediction capabilities varied considerably with a chosen threshold value. Therefore, we need to perform a study on the determination of an appropriate threshold value to improve the applicably of defect prediction models.

X-선 Lang 토포그래피를 이용한 사파이어 단결정 웨이퍼 결함 분석

  • Jeon, Hyeon-Gu;Bin, Seok-Min;Lee, Yu-Min;O, Byeong-Seong;Kim, Chang-Su
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • pp.371-371
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    • 2013
  • 사파이어 단결정 웨이퍼는 제조과정에서 결정 성장 조건 및 기계적 연마에 의하여 내부적인 결함이 발생할 수 있다. 사파이어 단결정은 일반적으로 LED용 기판 재료로 사용되며, 내부결함이 발생 시 기판 위의 GaN 등 layer의 결함도 함께 증가하므로 기판의 결함을 줄이는 과정이 중요한 이슈이다. 이 과정에 X-선 토포그래피는 단결정의 내부 결함을 모니터링 하는데 있어서 매우 유용한 방법이다. 이에 본 연구에서는 사파이어 단결정 웨이퍼에 내재하는 결함 형태를 X-선 Lang 토포그래피 방법(X-ray Lang Topography)으로 이미징하여 관찰, 분석하였다. Lang 토포그래피 방법은 X-선 투과법으로 넓은 부분을 우수한 강도와 분해능으로 내부 결함을 관찰할 수 있는 장점을 지니고 있다. X-선 source는 Mo $k{\alpha}$ 1을 사용하였으며, 시료는 c-plane 사파이어 웨이퍼를 사용하였다. 사파이어 웨이퍼의 (110), (102) 회절면의 X-선 토포그래피 이미지를 통해 전위 결함의 유형에 따른 이미지 패턴의 형성 메커니즘에 대해 연구하였고, 측정 회절면과 두께, 표면 데미지에 따른 전위 결함 이미지의 변화를 확인하였다. X-선 토포그래피 이미지를 통해 단결정 c-plane 사파이어 웨이퍼의 전위 결함의 형성 메카니즘 연구와 유형별 이미지와 회절면, 두께, 표면 데미지에 따른 이미지 변화 등을 확인하였다.

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Software Reliabilit Growth Models for an Imperfect Debugging with Induced Software Faults (소프트웨어 내에 잠입한 에러에 의한 불완전 디버깅을 고려한 소프트웨어 신뢰도성장모델)

  • Lee, J.K.;Lee, K.H.;Park, K.C.
    • Electronics and Telecommunications Trends
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    • v.18 no.5
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    • pp.63-72
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    • 2003
  • 소프트웨어의 신뢰성을 정량적으로 평가하는 데 있어서 소프트웨어 개발 프로세스의 시험단계나 사용자의 운용단계에 처한 동적 환경상태에서 소프트웨어 고장발생기능 현상을 기술한 소프트웨어 신뢰도성장모델을 많이 제안하고 있다. 대다수의 모델이 발생된 소프트웨어 고장의 발생원인에 대한 완전한 수정을 요구하는 완전 디버깅 환경을 가정하고 있다. 그러나 실제 개발자가 디버깅 작업을 수행할 때 완전한 수정이 불가능하기 때문이다. 다시 말해서 여러 소프트웨어 개발자가 경험한 이러한 디버깅 작업을 행하는 경우에는 결함을 제거하는 데 한계가 있기 때문에 수정 작업시 새로운 결함이 삽입되는 경우가 많다. 즉, 결함 수정은 불완전 환경에 처한다. 본 논문에서는 결함 수정시 신규 결함의 삽입 가능성을 고려하고 불완전 디버깅 환경에 대한 소프트웨어 신뢰도 성장모델을 제안한다. 소프트웨어 동작 환경 하에서 발생된 소프트웨어 고장과 시험 전 소프트웨어 내의 고유 결함에 의한 고장과 동작중에 랜덤하게 삽입된 결함에 의해 발생되는 고장 등 2종류의 결함을 고려하여 비동차 포아송과정(NHPP)에 의한 소프트웨어 고장발생 현상을 기술한다. 또한 소프트웨어 신뢰성 평가에 유용한 정량적인 척도를 도출하고 실측 데이터를 이용하여 적용한 결과를 제시하고 기존의 모델과의 적합성을 비교, 분석한다.