• Title, Summary, Keyword: 결함

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A Design of Fault Prediction Model for Software Integration Test (소프트웨어 통합테스트를 위한 결함예측모델 설계)

  • Kim, Myeong-Shin;Kang, Dongsu;Baik, Doo-kwon
    • Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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    • pp.969-972
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    • 2010
  • 소프트웨어 제품의 품질을 보장하기 위해서는 제품을 개발하는 단계에 미리 결함율을 예측하여 원하는 수준의 품질을 확보하는 것이 중요하다. 결함은 사용자의 요구사항이 제품으로 구현되고 기능에 대한 테스트가 수행되는 단계에 가장 객관적이며 정량적으로 관리될 수 있다. 따라서 본 논문에서는 통합테스트에 대한 계획을 수립하는 단계에 제품에 대한 결함율을 미리 예측하여 제품 결함율이 조직의 관리범위에 들어올 수 있도록 통제하는 결함예측모델을 제안한다. 조직의 제품 결함율 베이스라인을 설정하고 통합테스트 결함율에 영향을 미치는 변수들과의 회귀분석을 통해 통합테스트 결함예측모형을 구축한다. 또한 제품 결함율에 영향을 미치는 변수들과의 회귀분석을 통해 제품 결함예측모형을 구축하고 결함예측모형을 활용해 제품 결함율을 분석 및 통제한다. 본 논문에서 제안한 결함예측모델은 실제 프로젝트에 적용하여 실효성을 검증하였으며 제품이 완성되기 전에 결함율을 예측하여 통제할 수 있게 함으로써 소프트웨어 품질을 향상한다.

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양전자 소멸 측정에 의한 n, p형 실리콘에서의 결함 측정

  • Lee, Gwon-Hui;Jeong, Ui-Chan;Park, Seong-Min;Lee, Jong-Yong
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • pp.336-336
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    • 2012
  • 수명 측정법과 동시 계수 도플러 넓어짐 양전자 소멸 분광법으로 p형과 n형 실리콘 시료에 0, 3.98 MeV 에너지를 가진 $0.0{\sim}20.0{\times}10^{13}$ protons/$cm^2$ 양성자 빔 조사에 의한 결함을 측정하여 실리콘 결함 특성에 대하여 조사하였다. 양전자와 전자의 쌍소멸로 발생하는 감마선 스펙트럼의 전자 밀도 에너지를 수리적 해석 방법인 S-변수와 열린 부피 결함에 대한 측정법으로서 양전자 수명 ${\tau}1$${\tau}2$, 이에 따른 밀도 I1과 I2를 사용하여, 시료의 구조 변화를 측정하였다. 본 연구에서 측정된 S-변수와 양전자 수명은 시료에 조사된 양성자의 빔 에너지에 따라 변화하기보다 양성자 조사량의 변화에 따라 결함이 증가하였으며, 양전자 수명 측정과 같은 경향을 보여준다. SRIM의 결과로써, 양성자 조사 에너지에 따른 Bragg 피크 때문에 양성자는 시료의 특정 깊이에 주로 결함을 형성하여 시료 전체에는 결함으로 잘 나타나지 않기 때문이다. 빔의 조사량에 따른 결함의 영향이 더 큰 것으로 나타났다.

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Quality Measurement Process Management Using Defect Data of Embedded SW (Embedded SW의 품질 측정 프로세스 관리 방법에 관한 연구)

  • Park, Bok-Nam
    • 한국IT서비스학회:학술대회논문집
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    • pp.713-721
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    • 2003
  • The time to market and productivity of embedded system needs a quality measurement process management of embedded software. But, defect management without preemptive analysis or prediction is not useful for quality measurement process management. This subject is focused on the defect that is one of the most important attributes of software measure in the process. Defining of defect attribute and quality measurement process management is according to understanding of embedded sw characteristics and defect data. So, this study contributes to propose the good method of the quantitative based on defect management in the test phase of sw lifecycle.

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Vibration Analysis of Ball Bearing Fault using HFRT (HFRT 기법을 이용한 결함 볼베어링의 진동분석)

  • Kim, Ye-Hyun;Kang, Byoung-Yong;kim, Dong-Il;Chang, Ho-Gyeong
    • The Journal of the Acoustical Society of Korea
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    • v.14 no.2
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    • pp.92-100
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    • 1995
  • In this study, the bearing defects were modeled and the vibration of ball bearing faults was presented for the defective pattern. The vibration signal was measured for the single and multiple defected ball bearing at the various defect positions and rotation speed, and then the signal components using the HFRT(high frequency resonance technique) were analyzed by FFT. The experimental data analysis has shown that the frequencies generated in the single or multiple defected ball bearings appear with the characteristic defect frequency and harmonics of ball pass frequency peak. Signal processing by HFRT makes it possible not only to detect the presence of a defect but also to diagnose the defect part of the bearing.

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Light-Weight Fault Analyzer for Ubiquitous System (유비쿼터스 시스템을 위한 경량화된 결함분석기)

  • Hyun, Jae-Myung;Choi, Chang-Yeol;Kim, Sung-Soo
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • pp.786-790
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    • 2006
  • 현재 많은 사람들의 관심을 받고 있는 유비쿼터스 시스템(Ubiquitous System)이 주는 가장 큰 이점은 언제 어디서나 원하는 서비스를 사용할 수 있는 것이다. 따라서 이를 사용가능하게 하기 위해서는 유비쿼터스 시스템이 무선네트워크를 지원하여야 하며 또한 소형의 장치로 사용자가 간편하게 사용할 수 있어야 한다. 그러나 이러한 특성들로 인하여 유비쿼터스 시스템은 네트워크 불량, 자원 부족 등과 같은 문제점을 가지고 있으며 이것은 사용자 서비스의 질과 직접적으로 연결된다. 더욱이 이것으로 인하여 사용자가 서비스 사용에 불편을 겪는다면 유비쿼터스 시스템 사용에 대한 신뢰도는 떨어질 것이다. 이런 문제를 해결하기 위해서는 유비쿼터스 시스템에서 일어날 수 있는 결함을 분석하고 이에 대한 적절한 조치를 취하여 사용자가 서비스를 사용하는데 있어서 불편을 초래하지 않아야 한다. 따라서 본 논문에서는 유비쿼터스 시스템에서 사용될 수 있는 결함 분석기를 개발하였으며 또한 실제로 유비쿼터스 시스템 관리 유틸리티에 적용하였다. 본 결함 분석기에서는 메모리 결함, 배터리 결함, 네트워크 결함, 및 heartbit 결함에 대하여 정의하고 결함을 감지할 수 있도록 하였으며 또한 Java Exception 메시지를 이용하여 조기에 결함을 분석할 수 있도록 개발하였다.

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Fault Detection of Ceramic Imaging using Mininimum Filter (최소값 필터를 이용한 세라믹 영상에서의 결함 영역 검출)

  • Lee, Min-Jung;Nam, Ji-Hyo;Oh, Heung-Min;Kim, Kwang Baek
    • Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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    • pp.511-513
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    • 2016
  • 본 논문에서는 세라믹 영상에서 사람의 눈으로 판단하기 어려운 결함 영역을 검출하기 위해 배경을 제거한 후에 지역 기반 오츠 이진화와 양방향 소벨 마스크를 적용하여 세라믹 영상의 윤곽선을 검출한다. 윤곽선이 검출된 영상을 수평으로 4등분하고, 각각의 영역에서 밝기 값이 변화는 지점을 탐색한다. 탐색된 좌표 중에서 최대 명암도 값을 이용하여 ROI 영역을 추출한다. 결함 영역 검출의 효율성을 높이기 위한 전 단계로 배경을 제거하기 위해 ROI 영역과 최소값 필터가 적용된 ROI 영역 간의 명암도의 차이를 이용하여 배경을 제거한다. 명암도의 차이를 통해 배경이 제거된 ROI 영역에서 개선된 명암 대비 스트레칭 기법을 적용하여 ROI 영역의 명암 대비를 강조한다. 명암이 강조된 ROI 영역에서 10mm, 11mm, 16mm, 22mm 영상의 결함 영역을 검출하기 위해 히스토그램 이진화 기법을 적용하여 결함의 후보 영역을 추출한다. 결함 후보 영역이 검출된 ROI 영역에서 미세 잡음을 제거하기 위해 중간값 필터와 침식과 팽창을 적용한 후에 최종적인 결함 영역을 검출한다. 제안된 방법을 8mm, 10mm, 11mm, 16mm, 22mm 세라믹 영상을 대상으로 실험한 결과, 제안된 검출 방법이 기존의 검출 방법보다 모든 mm 세라믹 영상에서 효과적으로 결함 영역이 검출되는 것을 확인하였다.

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An effective classification method for TFT-LCD film defect images using intensity distribution and shape analysis (명암도 분포 및 형태 분석을 이용한 효과적인 TFT-LCD 필름 결함 영상 분류 기법)

  • Noh, Chung-Ho;Lee, Seok-Lyong;Zo, Moon-Shin
    • Journal of Korea Multimedia Society
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    • v.13 no.8
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    • pp.1115-1127
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    • 2010
  • In order to increase the productivity in manufacturing TFT-LCD(thin film transistor-liquid crystal display), it is essential to classify defects that occur during the production and make an appropriate decision on whether the product with defects is scrapped or not. The decision mainly depends on classifying the defects accurately. In this paper, we present an effective classification method for film defects acquired in the panel production line by analyzing the intensity distribution and shape feature of the defects. We first generate a binary image for each defect by separating defect regions from background (non-defect) regions. Then, we extract various features from the defect regions such as the linearity of the defect, the intensity distribution, and the shape characteristics considering intensity, and construct a referential image database that stores those feature values. Finally, we determine the type of a defect by matching a defect image with a referential image in the database through the matching cost function between the two images. To verify the effectiveness of our method, we conducted a classification experiment using defect images acquired from real TFT-LCD production lines. Experimental results show that our method has achieved highly effective classification enough to be used in the production line.

A Study on Software Fault Analysis and Management Method using Defect Tracking System (결함 추적 시스템에 의한 소프트웨어 결함 분석 및 관리기법 연구)

  • Joon, Moon-Young;Yul, Rhew-Sung
    • The KIPS Transactions:PartD
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    • v.15D no.3
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    • pp.321-326
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    • 2008
  • The software defects that are not found in the course of a project frequently appear during the conduct of the maintenance procedure after the complete development of the software. As the frequency of surfacing of defects during the maintenance procedure increases, the cost likewise increases, and the quality and customer reliability decreases. The defect rate will go down only if cause analysis and process improvement are constantly performed. This study embodies the defect tracking system (DTS) by considering the Pareto principle: that most defects are repetitions of defects that have previously occurred. Based on the records of previously occurring defects found during the conduct of a maintenance procedure, DTS tracks the causes of the software defects and provides the developer, operator, and maintenance engineer with the basic data for the improvement of the software concerned so that the defect will no longer be manifested or repeated. The basic function of DTS is to analyze the defect type, provide the measurement index for it, and aggregate the program defect type. Doing these will pave the way for the full correction of all the defects of a software as it will enable the defect correction team to check the measured defect type. When DTS was applied in the software configuration management system of the W company, around 65% of all its software defects were corrected.

Pattern Classification of HDD (Hard Disk Drive) Defect Distribution Using Rectangular Coordinates (직교좌표를 이용한 HIDD (Hard Disk Drive) 결함분포의 패턴 분류)

  • Moon, Un-Chul;Kim, Hyeong-Seok;Kang, Kyung-Hoon
    • Journal of The Institute of Information and Telecommunication Facilities Engineering
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    • v.2 no.1
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    • pp.71-77
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    • 2003
  • 본 논문에서는 불량 하드디스크 드라이브의 수리판정 자동화를 위해 필요한 하드디스크 드라이브(Hard Disk Drive, HDD) 결함의 분포패턴의 분류에 관한 연구 결과를 소개한다. HDD 제조공정에서는 테스트 진행 중 검출된 결함에 관한 정보를 HDD 내부에 기록한다. 불량으로 판별된 HDD는 내부에 기록된 결함의 분포론 관찰한 후, 불량의 종류 및 그에 따른 처리방안을 결정한다. 본 논문에서는 효율적인 결함분포 패턴의 특징추출을 위해, 하드디스크의 물리적 특성에 대한 분석을 바탕으로 극좌표 (Polar Coordinates) 방식으로 표현된 결함 위치 데이터를 직교좌표(Cartesian Coordinates)로 변환한다. 그리고 디스크 상의 두 동심원 사이의 공간을 정해진 회전각별로 등분한 후, 나누어진 구간별로 결함 발생빈도 히스토그램 (Histogram) 분석을 수행하여 결함분포의 패턴을 분류하는 알고리즘을 제시한다. 설계된 알고리즘은 실제 HDD 제조공정에서 발생한 불량 HDD Set을 대상으로 적용한 결과, 그 효용성이 검증되었다.

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A Study on Pattern Classification of HDD Defect Distribution (HDD 결함분포의 패턴 분류에 관한 연구)

  • 강경훈;문운철
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • pp.545-547
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    • 1999
  • 본 논문에서는 불량 하드디스크 드라이브의 수리판정 자동화를 위해 필요한 하드디스크 드라이브(Hard Disk Drive, HDD) 결함이 분포패턴의 분류에 관한 연구 결과를 소개한다. HDD 제조공정에서는 테스트 진행중 검출된 결함에 관한 정보를 HDD 내부에 기록한다. 불량으로 판별된 HDD는 내부에 기록된 결함의 분포를 관찰한 후, 불량의 종류 및 그에 따르는 처리방안을 결정한다. 본 논문에서는 효율적인 결함분포 패턴의 특징추출을 위해, 하드디스크의 물리적 특성에 대한 분석을 바탕으로 극좌표(Polar Coordinates) 방식으로 표현된 결함 위치데이터를 직교좌표(Cartesian Coordinates)로 변환한다. 그리고 디스크 상의 두 동심원 사이의 공간을 정해진 회전각별로 등분한 후, 나누어진 구간별로 결함 발생빈도 히스토그램(Histogram) 분석을 수행하여 결함분포의 패턴을 분류하는 알고리즘을 제시한다. 설계된 알고리즘은 실제 HDD 제조공정에서 발생한 불량 HDD Set을 대상으로 적용한 결과, 그 효용성이 검증되었다.

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