Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference (한국진공학회:학술대회논문집)

The Korean Vacuum Society (한국진공학회)
권호 표지

디지털 화상 처리 기법을 이용한 Scanning Electron Microscope의 화상의 개선 (3)

  • 김수길 (서울시립대학교 제어계측공학과) ;
  • 김대현 (서울시립대학교 제어계측공학과) ;
  • 최재혁 (서울시립대학교 전자공학과) ;
  • 박선우 (서울시립대학교 제어계측공학과)
  • Published : 1997.07.01
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