PSU(Path Select Unit) Design for Multiple Board System Testing

멀티 보드 테스트를 위한 PSU(Path Select Unit) 설계

  • Jung, Woo-Cheul (School of Electrical & Electronics Engineering, Chung-Ang University) ;
  • Song, Oh-Young (School of Electrical & Electronics Engineering, Chung-Ang University)
  • 정우철 (중앙대학교 공과대학원 전자전기공학부) ;
  • 송오영 (중앙대학교 공과대학원 전자전기공학부)
  • Published : 2002.04.12

Abstract

하나의 보드에 대한 소자들의 테스팅을 위해서 IEEE 1149.1이 제안되었고 완전한 테스팅을 지원한다. 하지만 여러 보드에 대해서는 불가능하여 IEEE 1149.1을 확장한 시스템 레벨의 테스팅 방법이 제안되었다. 기존의 IEEE 1149.1을 확장한 방법은 보드 레벨의 테스팅과 시스템 레벨의 테스팅이 하나의 데이터 패스에 의해서 테스트 시간이 길고 비효율적이다. 본 논문에서는 보드 레벨 테스팅과 시스템 레벨 테스팅을 구분하여 불필요한 테스트 데이터 이동을 줄여 테스트 시간을 줄이고 효율적인 방법을 제시한다. 그리고 이를 지원하기 위한 Path Select Unit을 설계한다. 구현된 PSU는 작은 게이트 사이즈로 적은 테스트 비용으로도 효율적으로 시스템 레벨 테스팅이 가능해진다.

Keywords