Proceedings of the KAIS Fall Conference (한국산학기술학회:학술대회논문집)
- 2003.06a
- /
- Pages.177-180
- /
- 2003
Development of the Measuring Technology for Dielectric Characteristics in Microwave Regions
고주파수 영약에서의 유전특성 측정기술 개발
- Kim, Sung-Won (Division of Materials ＆ Chemical Engineering, Soonchunhyang University) ;
- Lee, Gyu-Sun (Division of Information Technology Engineering, Soonchunhyang University)
- Published : 2003.06.01
Abstract
극초단파 영역에서 얇은 두께의 시료를 도파 관의 한 가운데 두었을 때 전송 법과 Automatic Network Analyzer를 이용하여 산란인자를 측정하였다. 파동의 전파상수를 구하기 위하여 복소수로 되어 있는 반사계수와 투과계수를 결정하고 이것으로 초월함수를 풀어 시료의 유전특성을 구하였다. 시료를 도파 관의 한 가운데 두고 산란인자를 측정하는 이 방법은 유전체와 도파 관 사이에 생길 수 있는 간격을 줄일 수 있고 시료를 쉽게 정착할 수 있다. 이 측정 방법은 대단히 간단하고 빨리 측정할 수 있으며 실험을 재생할 수 있다는 장점이 있다.
Keywords