Element- and depth- resolved exchange bias: likely exchange bias origin

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  • J. B. Kortright ;
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  • 이기석 (서울대학교 재료공학부) ;
  • 김상국 (서울대학교 재료공학부) ;
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  • 장성호 (서울대학교 재료공학부, 한국과학기술연구원 나노소자연구센터) ;
  • 김광윤 (한국과학기술연구원 나노소자연구센터) ;
  • 신성철 (한국과학기술원 물리과 및 스핀정보물질연구단)
  • Published : 2003.06.01