A Study for Adopting the Temperature Control Unit on Memory Device Tester Based on Principle of Thermoelectric Semiconductor

열전소자 원리를 이용한 부품 Tester용 온도공급 장치 연구 (메모리 Device Tester용 온도제어장치 도입을 위한 연구)

As environmental conditions for memory products are increasingly high speed/high density, adopting diverse system configuration, it's more and more difficult for current component tester to adopt the actual condition of field application. If system test screening is realized in component level, test coverage failure can be made more secured in the initial stage, evaluation cost can be reduced and the effectiveness of investment for the facility can be maximized. Based on the above background, component automatic system tester was developed and showed off satisfactory results per each memory device family. In this paper, component quality stabilization strategy and cost saving for tester investment through future Quality monitoring and application to mass production will be presented.

메모리 제품의 사용 환경은 점차적으로 High Speed/High Density화됨에 따라 현 Comp. Test 환경으로 Field 환경을 모두 수용하기가 어려워지고 있다. 따라서, Component Level에서 다양한 실장 System을 이용한 Screen 방법이 요구 되고 있다. 다양한 환경에서 Test를 실시하기 위해서 필수 불가결한 조건은 온도(Temperature)를 자동으로 제어(Control)할 수 있는 기능이 필요하게 되었다. 이에, 현재 사용하고 있는 방법은 Chamber나 히터를 이용하고 있으나 온도 제어가 보다 용이하고 정밀한 기능이 요구됨에 따라 열전반도체(Thermoelectric semiconductor)원리를 이용한 온도 제어 장치 도입을 위한 연구가 진행되었다. 본 논문에서는 그 개발 현황 및 평가 결과를 근거로 신규 Component실장 Tester에 효율적으로 도입 적용 가능함을 제시 하고자 한다. 또한, 향후 기타 Tester 및 산업용 설비 등에 까지 확대적용 가능함으로써 전자부품(메모리)의 품질 향상 및 설비투자 Cost절감 효과가 기대 된다.