Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference (한국전기전자재료학회:학술대회논문집)
- 2003.07b
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- Pages.984-987
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- 2003
Investigation of dark spots in OLEDs by using a near-field scanning microwave microscope
유기 발광소자내 dark spot의 마이크로파 근접장 현미경(near-field scanning microwave microscope)을 이용한 연구
- Yun, Soon-Il (Seokang Univ.) ;
- Park, Mi-Hwa (Seokang Univ.) ;
- Yoo, Hyeon-Jun (Seokang Univ.) ;
- Lim, Eun-Ju (Seokang Univ.) ;
- Kim, Joo-Young (Seokang Univ.) ;
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Lee, Kie-Jin
(Seokang Univ.)
- Published : 2003.07.10
Abstract
유기발광소자 안에 존재하는 비발광영역(dark spot)의 전압에 대한 영향을 근접장 마이크로파 현미경(near-field scanning microwave microscope)을 이용하여 관찰하였다. 유기발광소자는 glass/indiumtin oxide(ITO)/Cu-Pc/tris-(8-hydroquinoline)aluminum(Alq3)/aluminum(Al) 의 기본구조로 제작하였다. Dark spot은 ITO 기판을 부분적으로 에칭하여서 형성시켰다. Dark spot에
Keywords