대면적 미세형상의 측정/검사 기술

  • 김승우 (한국과학기술원 기계공학과) ;
  • 김영식 (한국과학기술원 기계공학과) ;
  • 오정석 (한국과학기술원 기계공학과)
  • Published : 2004.10.01