Proceedings of the IEEK Conference (대한전자공학회:학술대회논문집)

The Institute of Electronics and Information Engineers (대한전자공학회)
권호 표지

Threshold Analysis of a Sequential Detection Scheme with Locally Optimum Test Statistic

국소 최적 검정 통계량을 쓴 순차 검파 기법의 문턱값 분석

  • Choi, Sang-Won (Department of Electrical Engineering and Computer Science Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)) ;
  • Lee, Ju-Mi (Department of Electrical Engineering and Computer Science Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)) ;
  • Kwon, Hyoung-Moon (Department of Electrical Engineering and Computer Science Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)) ;
  • Park, So-Ryoung (School of Information, Communications, and Electronics Engineering, Catholic University of Korea) ;
  • Song, Iick-Ho (Department of Electrical Engineering and Computer Science Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST))
  • 최상원 (한국과학기술원 전자전산학과) ;
  • 이주미 (한국과학기술원 전자전산학과) ;
  • 권형문 (한국과학기술원 전자전산학과) ;
  • 박소령 (가톨릭대학교 정보통신전자공학부) ;
  • 송익호 (한국과학기술원 전자전산학과)
  • Published : 2005.11.26
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Abstract

이 논문에서는 새로운 약신호 검파 기법을 얻어, 그 기법과 국소 최적 검파 기법을 바탕으로 순차 검파 방식을 이끌어낸다. 먼저, 새로운 약신호 검파 기법을 제안하고, 흥미로운 문턱값 성질을 몇가지 밝힌다. 제안한 순차 검파 방식에서 쓰는 두 문턱값은 어떤 단계에 이르면 크기가 바뀌어, 결정을 무한히 미룰 때도 있는 순차 확률비 검파 방식이 지닌 문제점을 풀어준다.

Keywords