대한전기학회:학술대회논문집 (Proceedings of the KIEE Conference)

대한전기학회 (The Korean Institute of Electrical Engineers)
권호 표지

전압-열 가속열화에 따른 사이리스터 소자 누설전류 밀 차단전압 특성 분석

Analysis of the aging effects on the thyristor leakage current and blocking voltage characteristics

  • 김형우 (한국전기연구원, 전력반도체연구그룹) ;
  • 서길수 (한국전기연구원, 전력반도체연구그룹) ;
  • 김기현 (한국전기연구원, 전력반도체연구그룹) ;
  • 김남균 (한국전기연구원, 전력반도체연구그룹)
  • Kim, Hyoung-Woo (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
  • Seo, Kil-Soo (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
  • Kim, Ki-Hyun (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute) ;
  • Kim, Nam-Kyun (Power Semiconductor Group, Korea Electrotechnology Research Institute)
  • 발행 : 2006.07.12
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초록

사이리스터 소자의 신뢰성은 HVDC, SVC, FACTs와 같은 대용량 전력 시스템의 신뢰성에 많은 영향을 미친다. 따라서 사이리스터 소자의 신뢰성을 분석하는 것은 시스템의 안정적인 운용과 신뢰성의 확보에 필수적이다. 본 논문에서는 장시간동안 전압 및 열을 인가하여 사이리스터를 가속열화 시켰을 때 사이리스터 소자의 차단전압 및 누설전류 특성의 변화에 대해 실험을 통해 분석하였다. 가속열화 시험에는 14개의 사이리스터가 사용되었고, 1000V, $100^{\circ}C$의 조건에서 가속열화를 진행하였으며, 7일에서 10일의 간격으로 소자의 누설전류 및 차단전압 특성을 측정하여 초기 특성과 비교 분석하였다.

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