Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)
- 2006.10a
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- Pages.14-15
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- 2006
Dielectric and Insulation breakdown properties in manufacture process variable for High Voltage Capacitor
AC용 고압 캐패시터의 제조 공정 변수에 따른 유전 및 절연파괴 특성
- Yoon, Jung-Rag (SAMWHA Capacitor Co. Ltd) ;
- Lee, Heun-Young (Myoung-Ji University) ;
- Lee, Serk-Won (Hoseo University)
- Published : 2006.10.27
Abstract
제조공정상에서 발생하는 공정 변수에 의한 제품의 수준별 제품에 대하여 인가 전압별 절연저항 측정 및 내전압 측정 결과 내전압이 낮은 제품군에서 절연저항이 낮게 나타났으며 산포도 크게 나타남을 확인 할 수 있었다. PCT 시험 후의 유전 특성은 경우 용량의 변화율은 상승한 반면 제품군에 따른 용량 변화율의 크기는 작은 반면에 유전손실의 경우 PCT 실험후 변화율이 크게 나왔으며 이와같은 결과는 신뢰성 측면에서 취약할 수 있음을 보여주고 있다.
Keywords