Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference (한국정밀공학회:학술대회논문집)

  • 2006.10a
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  • Pages.63-64
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  • 2006
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  • 2005-8446(pISSN)
Korean Society for Precision Engineering (한국정밀공학회)
권호 표지

Analysis on Phenomenon that can be used as Measures in Detecting Total Backlash

전체 백래시 검출수단으로 사용될 수 있는 현상에 대한 분석

  • Baek, J.H. (NEX1 Future Co., Ltd., R&D Center, Mechanical Group) ;
  • Kim, Jie-Eok (NEX1 Future Co., Ltd., R&D Center, Mechanical Group) ;
  • Kim, Jin-Cheon (NEX1 Future Co., Ltd., R&D Center, Mechanical Group)
  • 백주현 (넥스원퓨처(주) 연구소 기계그룹) ;
  • 김지억 (넥스원퓨처(주) 연구소 기계그룹) ;
  • 김진천 (넥스원퓨처(주) 연구소 기계그룹)
  • Published : 2006.10.18
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Abstract

Keywords