Relationship between BOE etch rate and refractive index of SiNx thin films deposited by PECVD

PECVD로 증착한 SiNx 박막의 BOE 식각률과 굴절률과의 관계

  • 김태언 (한국광기술원 광소자팀) ;
  • 김선훈 (한국광기술원 광소자팀) ;
  • 김효진 (한국광기술원 광소자팀) ;
  • 김상택 (한국광기술원 광소자팀) ;
  • 기현철 (한국광기술원 광소자팀) ;
  • 양학 (한국광기술원 광소자팀) ;
  • 김진혁 (전남대학교 신소재공학부) ;
  • 김회종 (한국광기술원 광소자팀)
  • Published : 2006.07.01