LabVIEW를 이용한 UPS 테스트 자동화 시스템

Automated Test System for UPS using LabVIEW

  • 발행 : 2006.06.01

초록

최신의 디지털 방식 UPS(Uninterruptible Power Supply)는 10여 년 전의 아날로그 UPS에 비해 많은 설계 요인들로 인해 복잡해지고 있다. 고속-고성능의 DSP(Digital Signal Process), 다수의 I/O를 위한 FPGA(Field-Programmable Gate Array), 다기능의 사용자 인터페이스 그리고 다양한 통신 등이 그 예라고 할 수 있다. 임베디드 디자인이 이렇게 복잡해지면서 하드웨어나 소프트웨어를 신뢰성 있게 테스트하기에 기존 방법으로는 충분치 않게 되었다. 본문에서는 NI(National Instruments)의 버추얼 인스트루먼트(Virtual Instrument) 기술을 이용하여 자동화된 테스트 시스템에 대해 기술한다.

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