Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference (한국정보처리학회:학술대회논문집)

  • 2006.05a
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  • Pages.1341-1344
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  • 2006
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  • 2005-0011(pISSN)
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  • 2671-7298(eISSN)
Korea Information Processing Society (한국정보처리학회)
권호 표지

Improving Data Error Detection Performance for Embedded Systems Using Extended Temporal Error Detection (E-TED)

Extended TED 를 이용한 임베디드 시스템의 데이터 오류 감지 성능 개선

  • Kang Min-Koo (Division of Industrial & Information Systems Engineering, Ajou University) ;
  • Park Kie-Jin (Division of Industrial & Information Systems Engineering, Ajou University)
  • 강민구 (아주대학교 산업정보시스템공학부) ;
  • 박기진 (아주대학교 산업정보시스템공학부)
  • Published : 2006.05.01
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Abstract

임베디드 시스템의 신인도(Dependability)를 확보하기 위해 하드웨어적으로 여분을 두는 결함 허용(Fault-tolerant) 기법을 적용하는 것은 임베디드 시스템의 설치공간, 비용 및 전원 공급의 부족 등의 이유로 무리가 있다. 본 논문에서는 소프트웨어 결함 허용 기법의 일종인 시간 여분(Time-redundancy) 개념을 적용한 Extended Temporal Error Detection (E-TED) 기법을 연구하였으며, 실험을 통해 제안한 E-TED 기법이 기존의 TED 기법에 비해 데이터 오류의 감지 확률이 높은 것을 확인하였다.

Keywords