Prediction of Defects in Nanoimpring Lithography Using FEM Simulation

FEM 기반 결함 분석을 이용한 나노임프린트 공정 연구

  • 송남호 (서울대학교 기계항공공학부) ;
  • 손지원 (서울대학교 기계항공공학부) ;
  • 임성한 (한국기술교육대학교 기계정보공학부) ;
  • 오수익 (서울대학교 기계항공공학부)
  • Published : 2007.06.20