Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference (한국전기전자재료학회:학술대회논문집)
- 2007.06a
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- Pages.127-128
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- 2007
The reliability enhancement according to the trench etching profile
트렌치 식각 형상에 따른 신뢰성 향상
- Kim, Sang-Gi (ETRI) ;
- Lee, Ju-Wook (ETRI) ;
- Kim, Gwan-Ha (ETRI) ;
- Park, Hoon-Soo (Uiduk Univ.) ;
- Kim, Bo-Woo (ETRI) ;
- Koo, Jin-Gun (ETRI) ;
- Kang, Jin-Young (ETRI)
- 김상기 (한국전자통신연구원) ;
- 이주욱 (한국전자통신연구원) ;
- 김관하 (한국전자통신연구원) ;
- 박훈수 (위덕대학교) ;
- 김보우 (한국전자통신연구원) ;
- 구진근 (한국전자통신연구원) ;
- 강진영 (한국전자통신연구원)
- Published : 2007.06.21
Abstract
고밀도 트렌치 게이트 전력소자 제조를 위해 HBr. He-