Electrical properties of lanthanum hafnium oxide thin films deposited by electron cyclotron resonance atomic layer deposition

  • 김웅선 (한양대학교 신소재공학과) ;
  • 고명균 (한양대학교 신소재공학과) ;
  • 김태섭 (한양대학교 신소재공학과) ;
  • 박상균 (한양대학교 신소재공학과) ;
  • 박종완 (한양대학교 신소재공학과)
  • Published : 2007.11.02