Proceedings of the KIEE Conference (대한전기학회:학술대회논문집)

The Korean Institute of Electrical Engineers (대한전기학회)
권호 표지

Emulated Vision Tester for Automatic Functional Inspection of LCD Drive Module PCB

LCD 구동 모듈 PCB의 자동 기능 검사를 위한 Emulated Vision Tester

  • Joo, Young-Bok (School of Electrical Engineering and Computer Science, Kyoungpook National University) ;
  • Han, Chan-Ho (School of Electrical Engineering and Computer Science, Kyoungpook National University) ;
  • Park, Kil-Houm (School of Electrical Engineering and Computer Science, Kyoungpook National University) ;
  • Huh, Kyung-Moo (Department of Electronics Engineering, Dankook University)
  • 주영복 (경북대학교 전기전자컴퓨터학부) ;
  • 한찬호 (경북대학교 전기전자컴퓨터학부) ;
  • 박길흠 (경북대학교 전기전자컴퓨터학부) ;
  • 허경무 (단국대학교 전자공학과)
  • Published : 2008.10.31
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Abstract

본 논문에서는 LCD 구동 모들 PCB의 기능 검사를 위한 자동 검사시스템인 EVT(Emulated Vision Tester)를 제안하고 구현하였다. 기존의 대표적인 자동검사 방법으로는 전기적 검사나 영상기반 검사방식이 있으나 전기적 검사만으로는 Timing이 주요한 변수가 되는 LED 장비에서는 검출할 수 없는 구동불량이 존재하며 영상기반 검사는 영상획득에 일관성이 결여되거나 Gray Scale의 구분이 불명확하며 검출결과의 재현성이 떨어진다. EVT 시스템은 Pattern Generator에서 인가된 입력 패턴 신호라 구동모듈을 통한 후 출력되는 디지털 신호를 직접 비교하여 패턴을 검사하고 아날로그 신호 (전압, 저항, 파형)의 이상 여부도 신속 정확하게 검사할 수 있는 H/W적인 방법이다. 높은 검출 신뢰도와 빠른 처리 속도 뿐만 아니라 간결한 시스템 구성으로 원가절감 실현 등 많은 장점을 가진다.

Keywords