웨이퍼 레벨 패키지의 솔더 접합부 신뢰성 설계연구

Design study on the solder joints reliability of wafer level package

  • 가오샨 (PKG팀, 중앙연구소, 삼성전기주식회사) ;
  • 홍주표 (PKG팀, 중앙연구소, 삼성전기주식회사) ;
  • 김종운 (PKG팀, 중앙연구소, 삼성전기주식회사) ;
  • 김진수 (PKG팀, 중앙연구소, 삼성전기주식회사) ;
  • 김진구 (PKG팀, 중앙연구소, 삼성전기주식회사) ;
  • 최석문 (PKG팀, 중앙연구소, 삼성전기주식회사) ;
  • 이성 (PKG팀, 중앙연구소, 삼성전기주식회사)
  • 발행 : 2008.06.11