다중 입사각 반사광측정법을 이용한 박막의 두께측정

Angle-resolved reflectometer for thin-film thickness measurement

  • 주우덕 (한국과학기술원 기계항공시스템공학부) ;
  • 김승우 (한국과학기술원 기계항공시스템공학부)
  • 발행 : 2008.06.11