한국정밀공학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference)
- 한국정밀공학회 2008년도 춘계학술대회 논문집
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- Pages.355-356
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- 2008
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- 2005-8446(pISSN)
실리콘 웨이퍼 연마에서 패드 열화 특성에 관한 연구
Characteristics of Pad Deterioration in Silicon Wafer Polishing
- 발행 : 2008.06.11