The large-area and fast measurement using parallel processing technology

병렬처리기술을 이용한 대면적 고속측정기술

  • 유준호 (KAIST 기계공학과 정밀측정연구실) ;
  • 김승우 (KAIST 기계공학과 정밀측정연구실)
  • Published : 2009.10.26