Tunnel barrier engineered 메모리 적용을 위한 터널링 절연막의 전기적 특성 및 계면 특성

  • 오준석 (광운대학교 전자재료공학과) ;
  • 정명호 (광운대학교 전자재료공학과) ;
  • 정홍배 (광운대학교 전자재료공학과) ;
  • 이영희 (광운대학교 전자재료공학과) ;
  • 조원주 (광운대학교 전자재료공학과)
  • Published : 2009.02.11