Researching the Control Methodology for Automatic Test Equipment Apparatus for Test Time Reduction

Test Time감축을 위한 자동 검사 설비 제어방법에 관한 연구

  • Byun, Do-Hoon (Samsung Institute of Technology University) ;
  • Choi, S.C. (Samsung Institute of Technology University) ;
  • Yun, B.H. (Samsung Electronics Foundry PE/TEST)
  • Published : 2010.06.16

Abstract

반도체 산업은 지속적인 design rule 감소로 인해 직접도 및 Pin Count가 점점 증가함에 따라 보증해야할 회로의 수와 기능이 더불어 증가하고 있으며, 그 중 Test Cost 감소 방법 확보가 시급하게 되었다. 이에 따라 Test Cost 감소와 직결된 Test Time 감소 방법이 다양하게 제시되고 연구되고 있다. 본 논문은 Test Time의 한 부분인 반도체 검사 장비 (Automatic Test Equipment)의 효율적인 제어 방법을 제공함으로써, 관련 분야의 이해를 돕고자 한다.

Keywords