한국정밀공학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference)

한국정밀공학회 2010년도 추계학술대회 논문집
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Pages.729-730
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2010
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2005-8446(pISSN)

한국정밀공학회 (Korean Society for Precision Engineering)

권호 표지

태양전지 실리콘 웨이퍼의 결함 검출을 위한 레일리기준 기반 레이저산란 패턴 분석 및 고찰

Based on Rayleigh's Criterion Laser Scattering Pattern Analysis and Discussion for Defect Detection in Silicon Wafer of Solar Cell

연정승 (국립 충주대학교 산업대학원) ;
김경범 (국립 충주대학교 항공.기계설계학과)

Yeon, J.S. ;
Kim, G.B.

발행 : 2010.11.11

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