Study on the Long-term Reliability of Photovoltaic Module in the Cell level

태양전지의 Cell 레벨에서의 장기 신뢰성에 관한 연구

  • Kim, Koung-Hwan (School of Mechanical Engineering, Chung-Ang University) ;
  • Jeon, Yu-Jae (School of Mechanical Engineering, Chung-Ang University) ;
  • Kim, Do-Sok (School of Mechanical Engineering, Chung-Ang University) ;
  • Jo, Il-Jea (School of Mechanical Engineering, Chung-Ang University) ;
  • Shin, Young-Eui (School of Mechanical Engineering, Chung-Ang University)
  • Published : 2012.03.29

Abstract

본 연구는 고온고습 시험을 통하여 Cell 레벨에서의 표면관찰 및 효율저하를 분석하였다. 고온고습 시험 조건은 KS C IEC-61215에서 제시한 PV module하의 조건을 이용하여 온도 $85^{\circ}C$, 습도 85% 조건하에 1000시간 동안 수행하였다. 고온고습 시험에 따라 효율에 직접적인 영향을 줄 수 있는 이상 유 무를 Cell 표면을 통해 분석한 결과, 고온고습 시험 수행 중 부분적으로 변색되는 것을 확인하였다. 고온고습 시험 전 단결정 Cell의 효율은 17.74% 였으며, 1000시간 수행 후 15.63%으로 11.89%의 감소율을 보였다. 다결정 Cell의 시험 전 효율은 15.46%, 1000시간 수행 후 효율은 14.02%로 9.31%의 감소율을 보였다. 경년 시 나타나는 전기적 특성을 분석하기 위해 FF(Fill Factor)값을 분석한 결과, 고온고습 시험 전 단결정 Cell은 78.71%에서 75.01%로 4.7%의 감소율을 보였으며, 다결정 Cell은 78.10 %에서 76.66%로 1.84%의 감소율을 보였다. 효율 및 FF값에서 단결정 Cell이 다결정 Cell보다 감소율이 큰 것으로 분석되었으며, 이는 단결정 Cell이 외부 환경에서 더욱 크게 작용하여 효율저하에 영향을 주었다고 판단된다.

Keywords