A Study on the Edge Detection using Adaptive Mask

적응 마스크를 이용한 에지 검출에 관한 연구

  • Lee, Chang-Young (Dept. of Control & Instrumentation Eng., Pukyong National University) ;
  • Kim, Nam-Ho (Dept. of Control & Instrumentation Eng., Pukyong National University)
  • 이창영 (부경대학교 공과대학 제어계측공학과) ;
  • 김남호 (부경대학교 공과대학 제어계측공학과)
  • Published : 2012.10.26

Abstract

In images, the edge is an important element to analyze characteristics of the image and has been used selectively at several applications. Even now, many researches to detect and take advantage of theses edges are underway and in initially to detect edges, methods using the relation of adjacent pixels are proposed. Characteristic of these methods is that the processing speed of the algorithms is fast, but the specific weighted values are applied to all the pixels regardless of the images equally. In recent years, the research of the edge detection algorithm to adapt according to the image has been actively underway, in order to complement the drawbacks of the existing methods. Therefore, in order to detect the edge excellent characteristics In this paper, we proposed algorithm using adaptive mask.

영상에서 에지는 영상의 특징을 분석하는 중요한 요소이며 여러 응용 분야에 선택적으로 활용되고 있다. 이러한 에지를 검출하고 활용하기 위한 많은 연구들이 지금까지도 진행되고 있으며, 초기에는 에지를 검출하기 위하여 인접한 화소들의 관계를 이용한 방법들이 제안되었다. 이러한 방법들의 특징은 알고리즘의 처리가 빠르지만 영상에 관계없이 특정 가중치가 모든 화소에 동일하게 적용되는 것이다. 이와 같은 기존의 방법의 단점을 보완하기 위하여, 최근에는 영상에 따라 적응하여 에지를 검출하는 알고리즘의 연구가 활발히 진행되고 있다. 따라서 본 논문에서는 에지를 우수한 특성으로 검출하기 위해 적응 마스크를 이용한 알고리즘을 제안하였다.

Keywords