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Implementation of Error Simulator with NANDSim

NANDSim 기반의 오류 발생 시뮬레이터의 구현

  • Kim, Ki-Jin (Dept. of Electronic and Information Engineering, Hankuk University of Foreign Studies) ;
  • Lim, Seung-Ho (Div. of Computer and Electronic Systems Engineering, Hankuk University of Foreign Studies)
  • 김기진 (한국외국어대학교 전자정보공학과) ;
  • 임승호 (한국외국어대학교 컴퓨터전자시스템공학부)
  • Published : 2016.04.29

Abstract

최근 소형 임베디드 시스템에서 고사양 컴퓨터 시스템까지 저장매체로 낸드 플래시 메모리를 채택하고 있다. 낸드 플래시는 물리적 성질로 인해 비트 오류가 발생하며 저장매체로써의 신뢰성이 부각되고 있다. 낸드 플래시 연구를 위해 낸드 플래시 하드웨어로 실험 환경을 구성할 경우 다른 종류의 낸드 플래시 하드웨어를 테스트하려면 전체 실험 환경을 수정해야 하는 번거로움이 발생한다. 본 논문은 실제 낸드 플래시의 비트 오류율(Bit Error Rate : BER)을 수집하여 비트 오류 발생 모델을 구축하였고 리눅스 커널의 낸드 플래시 시뮬레이터인 NANDSim에서 가상으로 생성한 낸드 플래시 종류에 따라 비트 오류율을 적용하여 소프트웨어적 실험 환경을 구성하였다.

Keywords