Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference (한국정보처리학회:학술대회논문집)

  • 2017.11a
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  • Pages.500-503
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  • 2017
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  • 2005-0011(pISSN)
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  • 2671-7298(eISSN)
Korea Information Processing Society (한국정보처리학회)
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Back-to-Back Testing based on MC/DC 100% Test case

MC/DC 100% Test case를 활용한 Back-to-Back Testing

  • 고동률 (슈어소프트테크 SE 사업본부) ;
  • 유영민 (슈어소프트테크 SE 사업본부) ;
  • 박인권 (슈어소프트테크 SE 사업본부) ;
  • 한일영 (슈어소프트테크 SE 사업본부)
  • Published : 2017.11.01
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Abstract

차량 내 전장부품이 증가하고, 차량 OEM(Original Equipment Manufacturing)이 다양한 차종을 생산 판매함에 따라 다양한 SW(software) 형상이 개발되고 있다. 따라서, 기존에 개발된 SW 형상과 변경된 SW 형상 간에 기능 일치성 검증에 대한 필요성이 증가하고 있다. 두 가지 SW 형상 간에 기능 일치성 확인을 위한 테스팅 방법으로 Back-to-Back Testing이 있는데, 이는 각 SW 형상에 동일한 입력값을 주입하고 동일한 출력값이 산출되는 지 확인하는 테스팅 방법이다. Back-to-Back Testing 수행 시 Test case 설계가 필요한데, Test case의 분량과 테스팅 종료기준에 대해서 아직 확립이 되어 있지 않다. 이제 본 논문에서는 MC/DC(Modified Condition/Decision Coverage) 개념을 이용하여 Test case 분량과 테스팅 종료 기준에 대해서 제시하고, 이를 적용한 사례를 설명한다. 본 논문에서 제시한 Test case 설계 기준을 적용하면, 제한적인 테스팅 일정과 인력을 만족하고, 기능 일치를 확인할 수 있는 충분한 테스팅이 가능할 것으로 판단한다.

Keywords