Proceedings of the KIPE Conference (전력전자학회:학술대회논문집)
- 2020.08a
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- Pages.85-87
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- 2020
Capacitor Withstand Current Tester using Resonant Circuit
공진 회로를 이용한 Capacitor 전류 시험기
- Lee, Chang Hyeun (Dept. of Electronics, Kookmin Univ) ;
- Kang, Yoon Soo (Dept. of Electronics, Kookmin Univ) ;
- Park, Doil (Dept. of Electronics, Kookmin Univ) ;
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Roh, Chung Wook
(Dept. of Electronics, Kookmin Univ)
- Published : 2020.08.18
Abstract
고전압 커패시터는 회로 전체 안전성의 이유로 신뢰도를 유지하는 것이 매우 중요하다. 따라서 커패시터는 다양한 특성에 대해 시험이 필요하며 이때 장비가 필요하게 된다. 커패시터 시험용 특성으론 용량, 내전압, 전압 변화량, Irms, Ipeak가 있는데, 이 중 전류(Irms, Ipeak) 시험기의 경우 시중에 거의 없고, 매우 고가에 거래가 되고 있다. 이는 기존 전류 시험기가 CCCV(constant current constant voltage) 충/방전 회로를 사용하여 높은 전력을 공급하는 Power Supply가 요구되기 때문이다. 본 논문은 상기 기존 기술의 문제점을 해결하고자 공진회로를 이용하여 새로운 커패시터 전류 시험기를 설계하였고, Simulation을 통해 제안 전류 시험기의 가능성을 검토하였다.
Keywords