실리콘 양극산화 방법에 의한 실리콘내의 보론과 아세닉 확산분포의 측정

Measurement of diffusion Profiles of Boron and Arsenic in Silicon by Silicon Anodization Method

실리콘 양극산화방법으로 실리콘에서의 불순물 분포를 측정하였다. 전해액으로 Ethylene Glycol-KNO3(0.04N)을 사용하였고, 200V의 전압을 가했을 때 한번의 양극산화에 의하여 삭감되는 실리콘 두께는 웨이퍼 타이프에 관계없이 460±40A이다. Predeposition후의 보론과 아세닉의 분포를 구하였고 이 분포에 의하여 불순물 농도에 따른 확산계수를 계산하였다. 또한 npn트란지스터 구조에서 아세닉 에미터와 브론 베이스간의 상호작용에 의한 베이스 pull-in 현상을 관찰하였다.

Anodization method is utilized in order to measure diffusion profiles of boron and arsenic in silicon. The solution used for silicon anodization is Ethylene glycol +KNO3(0.04N), The thickness of silicon which is consumed by a single 200V anodization is 460$\pm$40A regardless of wafer type. The profiles of boron and arsenic in silicon after predeposition process are investigated. The diffusion coefficients of both dopants depending on impurity concentration are extrated from these profiles. The base pull-in effect has been observed in prototype npn transistors with arsenic doped emitter.