Development of the 1st-Order Similarity Measure and the 2nd-Order Similarity Measure Based on the Least-Squares Method

최소 자승법에 의한 1차 유사도 및 2차 유사도의 개발

  • 강환일 (경북대학교 공과대학 전자공학과) ;
  • 석민수 (미국 Syracuse 대학 전기 및 전산공학과)
  • Published : 1983.11.01

Abstract

Two measures of similarity between contours, the 1 st-order similarity measure and the 2nd-order similarity measure are proposed. They are based on the residual errors of the least squares fit. In particular, the 2nd-order similarity measure has a good reliability with respect to contours of many variations such as imperfection, affine transform or combination of these properties. By taking experiments of aircraft identification and recognition we show that in the matching performance the 2nd -order similarity measure is superior not only to the 1 st-order similarity measure but also to the previous matching techniques.

콘투어 맷칭을 위한 1차 유사도와 2차 유사도가 제안되었다. 그것들은 최소자승법에 의한 것이다. 특히 2차 유사도는 콘투어의 불완전함 혹은 어파인 변환 혹은 이들 특성의 결합같은 왜곡된 변화에 양호한 신뢰도를 가지고 있다는 사실을 비행기 기종의 판별과 인식하는 실험을 통하여 증명하였다. 또한 맷칭 성능에 있어서 2차 유사도가 1차 유사도뿐만 아니라 기존의 맷칭기법들보다 우수함을 보였다.

Keywords