The Magazine of the IEIE (전자공학회지)

The Institute of Electronics and Information Engineers (대한전자공학회)
권호 표지

테스트 용이성을 고려한 VLSI 설계 방식

  • 임인칠 (한양대학교 공과대학 전자공학과)
  • Published : 1984.10.01
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