The electron density distribution and the structure of semiconductor HgCdTe

반도체 HgCdTe의 전자 밀도 분포와 결정 구조

  • Kook-Sang Park (Dept. of Physics, Dankook University, Cheonan 33-714, Korea) ;
  • Ky-Am Lee (Dept. of Physics, Dankook University, Cheonan 33-714, Korea)
  • Published : 1994.12.01

Abstract

A Hg(0.79)Cd(0.21)Te single crystal has been grown by the Traveling Heater Method(THM). Its zinc blend cubic structure is identified from the X-ray diffraction patterns and its lattice constant is determined to be $6.464 {\AA}$ using the least-square method of Cohen. From the values of the lattice constant, the composition x is determined to be 0.21. The electron density is calculated from the relative intensities of the scattered X-ray and compared with the theoretically calculated values. From the electron density distribution, it is shown that the crystal binding of Hg(1-x)Cd(x)Te(MCT) is mainly covalent and has tetrahedron bonds between adjacent atoms.

단결정 Hg(1-x)Cd(x)Te (MCT,X=0,21)가 특수 제작된 고압로에서 Traveling Heater Method(THM)으로 성장되었다.X-선 회절 실험으로 MCT는 입방ZnS 구조임을 확인하였다. 측정된 격자상수는 $6.464 {\AA}$이엇으며, J.C.Wooley가 측정한 값과 비교하여 얻은 MCT의 성분비는 0.21이었다.MCT의 결정 구조를 분석하기 위하여 X-선 회절 강도로 부터 전자 밀도를 계산하였다.전자 분포 밀도도로 부터 MCT는 주로 공유 결합을 하고 있으며, 인접 원자들 상에는 사면체 구조를 이루고 있음을 알 수 있다. 격자 상수가 Vegard line으로 부터 편이 되는 원인은 성분비x가 증가될 때 원자간 거리 변화의 비선형적 증가로 판단되며, 이것은 결합 에너지와 관련될 것으로 추축된다.

Keywords