A study on the Fabrication of Wavelength Measurement System and the Spectrum Anslysis of Laser Diodes

파장측정 장치의 제작 및 반도체레이저의 광 스펙트럼분석에 관한 연구

  • 오수환 (한국해양대학교 전자통신공학과) ;
  • 이석정 (한국해양대학교 전자통신공학과) ;
  • 박윤호 (한국해양대학교 전자통신공학과) ;
  • 홍창희 (한국해양대학교 전자통신공학과)
  • Published : 1995.12.01

Abstract

A wavelength measurement system has been made using a monochromator and computer interfacing. The spectra of several light emitting diodes and the wavelength characteristics of Fabry-Perot LD and DFB LD have been measured with this system. The results show that this system can be practicalIy used in analyzing the lasing mode and the wavelength characteristics of the semiconductor lasers. asers.

본 연구에서는 분광기와 컴퓨터 인터페이싱에 의해 파장측정장치를 제작하였으며 제작된 파장측정 장치를 이용하여 반도체레이저인 Fabry-Perot LD와 DFB-LD의 파장특성을 측정하고 그 결과를 분석함으로써 본 연구실에서 제작한 파장측정 장치가 반도체 레이저의 발진 파장특성을 분석하는데 실용적으로 이용될 수 있음을 알 수 있었다.

Keywords

References

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