파장측정 장치의 제작 및 반도체레이저의 광 스펙트럼분석에 관한 연구

A study on the Fabrication of Wavelength Measurement System and the Spectrum Anslysis of Laser Diodes

  • 오수환 (한국해양대학교 전자통신공학과) ;
  • 이석정 (한국해양대학교 전자통신공학과) ;
  • 박윤호 (한국해양대학교 전자통신공학과) ;
  • 홍창희 (한국해양대학교 전자통신공학과)
  • 발행 : 1995.12.01

초록

본 연구에서는 분광기와 컴퓨터 인터페이싱에 의해 파장측정장치를 제작하였으며 제작된 파장측정 장치를 이용하여 반도체레이저인 Fabry-Perot LD와 DFB-LD의 파장특성을 측정하고 그 결과를 분석함으로써 본 연구실에서 제작한 파장측정 장치가 반도체 레이저의 발진 파장특성을 분석하는데 실용적으로 이용될 수 있음을 알 수 있었다.

A wavelength measurement system has been made using a monochromator and computer interfacing. The spectra of several light emitting diodes and the wavelength characteristics of Fabry-Perot LD and DFB LD have been measured with this system. The results show that this system can be practicalIy used in analyzing the lasing mode and the wavelength characteristics of the semiconductor lasers. asers.

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참고문헌

  1. 제3회 광자기술 학술회의 논문집 PC를 이용한 광파장 스펙트럼 측정에 관한 연구 오수환;이석정;황상구;박윤호;홍창희
  2. 센서 인터페이싱 No. 4: 광센서 徹底活用篇 梅地 正(外 著);全在昇(譯)
  3. 춘계 부산·경남 지부 전자공학회 파장측정장치를 이용한 LD의 발진특성분석에 관한 연구 오수환;이석정;박윤호;홍창희
  4. 實用 OP-AMP 回路 角田秀夫(著);堈景一(共譯);勸仁鉉(共譯)
  5. 半導體 レ-ザと 光集積回路 末松安晴
  6. Electron. Lett. v.13 Fast pulse behavior of InGaAsP/InP double-heterostructure lasers emitting at 1.27㎛ T.Yamamoto;K.Sakai;S.Akiba;Y.Suematsu
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