A Study on the Residual stress of Diamond-like Carbon Films Deposited by RF PECVD

RF PECVD로 증착된 다이아몬드상 탄소막의 잔류응력에 관한 연구

  • Choi, Woon (Dept. of Metallurgical Materials Science, Hong Ik University) ;
  • Nam, Seung-Eui (Dept. of Metallurgical Materials Science, Hong Ik University) ;
  • Kim, Hyoung-June (Dept. of Metallurgical Materials Science, Hong Ik University)
  • 최운 (홍익대학교 금속.재료공학과) ;
  • 남승의 (홍익대학교 금속.재료공학과) ;
  • 김형준 (홍익대학교 금속.재료공학과)
  • Published : 1996.12.01

Abstract

rf 플라즈마 화학증착을 이용하여 증착된 hydrogenated DLC막의 잔류응력 거동에 대해 조사하였다. 합성된 DLC막의 압축 잔류응력은 이온 에너지뿐만 아니라 이온/원자 유입량 비에 의해 영향을 받는 것으로 조사되었다. 잔류응력의 최대치는 이온/원자 유입량비가 증가할수록 낮은 이온 에너지 구간에서 일어나며 그 값은 증가하였다. 이온 에너지에 따른 DLC막의 결합 구조의 변형을 Raman 스펙트럼을 이용하여 분석하였다. DLC막의 잔류응력은 sp3결합의 net working이 최대가 되는 점에서 최대치를 보이며, 이는 sp3 net working에 의한 부피팽창 요인에 기인하는 것으로 생각된다. DLC막 내의 유입되는 수소는 잔류응력의 직접적인 원인으로 작용하지 않는 것으로 분석되었다.

Keywords

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