Journal of Korean Society of Industrial and Systems Engineering (산업경영시스템학회지)

Society of Korea Industrial and System Engineering (한국산업경영시스템학회)
권호 표지

Graphical Approach to Access Weak Population

불량품 적출을 위한 그래프 기법

  • KIM, KUINAM J. (Department of Statistics, Colorado State University)
  • 김귀남
  • Published : 1996.12.01
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Abstract

CMOS부품에는 양품과 불량품이 혼재되어 있는 경우가 많다. 이 경우, 부품의 신뢰성을 향상 시키기 위해서는 불량품을 제거하여야 한다. 이와 관련하여 불량품과 양품의 모수를 구하기 위해 많은 연구가 있었다. 본 논문에서는 Jasen & Petersen 기법을 Bayesian 기법의 실제 상황에 대한 적용에 대하여 연구하였다.

Keywords