A Study on the Dielectric Characteristics of Si-Doped ZNR

Si가 첨가된 ZNR의 유전특성에 관한 연구

  • Nam, Chun-U (Dept.of Electronics Engineering, Dongeui University) ;
  • Jeong, Sun-Cheol (Dept.of Electronics Engineering, Dongeui University)
  • 남춘우 (동의대학교 전기공학과) ;
  • 정순철 (동의대학교 전기공학과)
  • Published : 1997.12.01

Abstract

Si가 첨가된 ZNR의 겉보기 유전상구, 겉보기 비유전손율, 유전비저항의 주파수 특성을 여러 측정온도에서 조사하였다. 모든 ZNR에 대하여 유전분산현상 및 유전흡수현상이 뚜렷이 나타났으며, 비슷한 경향의 유전성질을 나타냈다. SiO$_{2}$첨가량이 증가함에 따라 겉보기 유전상수, 피이크 겉보기 비유전손율은 감소하였으며, 유전비저항은 증가하였다. 온도상승시 겉보기 유전상수, 피이크 겉보기 비유전손율은 증가하였으며, 흡수 피이크 주파수는 고주파측으로 이동하였다. SiO$_{2}$첨가량이 증가함에 따라 ZNR은 Cole-Cole원호에서 0.68-0.72범위 내에서 증가하는 $\beta$값을 가지며, 완화시간의 분포가 좁아지는 유전특성을 나타냈다.

Keywords

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