순서회로를 위한 경계면 스캔 구조에서의 지연시험 연구

A Study of Delay Test for Sequential circuit based on Boundary Scan Architecure

본 논문에서는 경계면 스캔 구조에서의 클럭 입력을 갖는 순서회로를 위한 지연시험 구조와 지연시험 절차를 개발하였다. 지연시험 대상회로가 클럭 입력을 갖는 순서회로일 경우, 기존의 경계면 스캔 구조에서의 지연시험은 중복패턴의 입력, 클럭 입력과 데이터 입력과의 시간 간격과, 패턴 입력과 응답값 캡쳐까지의 시간 문제에 의해 적절치 않음을 보였다. 본 논문에서 제안하는 ARCH-S는 클럭 카운팅 기술을 이용하여 정해진 수의 클럭을 대상회로의 클럭 입력선에 적용시킴으로써 대상회로에 입력되는 입력 패턴의 중복을 피할 수 있다. 또한 대상회로를 정상 속도에서 동작할 수 있도록 시스템 클럭을 TCK로 사용한다. 연속적인 클럭 발생에 TCK를 사용함으로써 대상회로를 정상 속도에서 검증할 수 있다. 제안된 ARCH-S 구조는 시뮬레이션을 통해 동작의 정확성과, 기존의 구조와 비교하여 향상된 성능을 가짐을 확인하였다.

In this paper, we developed a delay test architecture and test procedure for clocked sequential circuit. In addition, we analyze the problems of conventional and previous method on delay test for clocked sequential circuit in IEEE 1149.1. This paper discusses several problems of Delay test on IEEE 1149.1 for clocked sequential circuit. Previous method has some problems of improper capture timing, of same pattern insertion, of increase of test time. We suggest a method called ARCH-S, is based on a clock counting technique to generate continuous clocks for clocked input of CUT. A 4-bit counter is selected for the circuit under test. The simulation results ascertain the aecurate operation and effectiveness of the proposed architecture.