Quadratic polynomial fitting algorithm for peak point detection of white light scanning interferograms

백색광주사간섭무늬의 정점검출을 위한 이차다항식맞춤 알고리즘

  • 박민철 (한국과학기술원 기계공학과) ;
  • 김승우 (한국과학기술원 기계공학과)
  • Published : 1998.08.01

Abstract

A new computational algorithm is presented for the peak point detection of white light interferograms. Assuming the visibility function of white light interferograms as a quadratic polynomial, the peak point is searched so as to minimize the error sum between the measured intensity data and the analytical intensity. As compared with other existing algorithms, this new algorithm requires less computation since the peak point is simply determined with a single step matrix multiplication. In addition, a good robustness is obtained against external random disturbances on measured intensities since the algorithm is based upon least squares principles.

본 논문에서는 백색광주사간섭무늬의 정점검출을 위한 새로운 디지털처리 알고리즘을 제안한다. 본 알고리즘은 백색광주사간섭무늬의 가시도함수를 이차의 다항식으로 가정하고, 측정된 광강도 값들을 최소자승법을 이용하여 직접적으로 곡선맞춤하여 가시도함수의 정점의 위치를 검출한다. 기존의 정점검출 알고리즘들과 비교하여, 본 이차다항식맞춤 알고리즘은 가시도함수의 추출을 위한 별도의 연산이 요구되지 않아 3N+29의 작은 곱셈 계산량만으로 연산을 완료 할 수 있다. 또한 최소자승법을 사용함으로써 간섭무늬가 갖는 외부 교란을 효과적으로 억제하여 안정된 해를 제공하는 장점을 갖는다.

Keywords

References

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