Abstract
Neutral stream was generated from Helicon plasma source and was applied to etch silicon for the purpose of preventing physical and electrical damages from the bombardment of charged particles with high translation energy. By installing a permanent magnet and applying positive bias beneath the substrate, the cusp-magnetic and electric fiddles were generated in order to remove the charged particles from the downstream plasma. As a result, the electron density and ion density in the vicinity of the substrate were reduced by 1/1000 and 1/10, respectively. The directional etching of silicon was observed and the etch rate was found to be very low to below 100 $\AA$/min at a pressure of $8.5{\times}10^{-4}$ Torr, when $Cl_2$ and 10% $SF_{sigma}$ etchant gases were used.
헬리콘(Helicon) 플라즈마로부터 중성입자 흐름을 생성하여 높은 에너지의 이온에 의한 기판의 물리적, 전기적 손상을 방지할 수 있는 실리콘 식각공정이 연구되었다. 기판의 하부에 영구자석을 설치하여 cusp모양의 자계를 형성하므로써 이온 및 전자를 기판으로부 터 제거되도록 하였고 이러한 방법으로 완전히 제거되지 않는 이온의 제거를 위해서 기판 하부에 양의 전압을 가하여 자계나 전계에 영향을 받지 않는 중성입자 흐름을 얻을 수 있도 록 하였다. 발생시킨 자계 및 전계의 의해 기판 상부에서의 전자밀도는 자계나 전계가 가해 지지 않은 경우에 비해 약1/1,000정도로 낮아졌으며, 이온밀도 또한 약1/10정도로 감소하였 다. 이러한 공정을 통해 얻어진 실리콘의 식각속도는 $Cl_2$와 10%의 SF6를 혼합하여 사용할 때 $8.5{\times}10^{-4}$Torr의 압력에서 약100$\AA$/min이하로 매우 낮았으며 실리콘의 식각이 비등방성 을 가지며 진행될 수 있음이 보여졌다.
