Measurement of field-induced absorption changes in an electroabsorption waveguide using photocurrent

전계흡수형 도파로에서 광전류를 이용한 전계에 따른 흡수변화의 측정

  • Published : 1999.06.01

Abstract

We propose a simple technique to obtain field-induced absorption changes of an electroabsorption waveguide by using photocurrent generated inside a waveguide. Photocurrent proportional to the absorbed power and displaying Fabry-Perot interference fringes were observed and the field-induced absorption changes were derived from the ratio of resonant and anti resonant currents in the photocurrent spectra. The field-induced absorption change of InGaAsP waveguide for 1.5V reverse bias voltage at 1.55 $\mu\textrm{m}$ was determined to be $~157\cm^{-1}$.

전계흡수형 반도체 광도파로에서 흡수된 빛에 의해 발생된 광전류는 전파되는 파장에 따라 Fabry-Perot 모드의 간섭패턴을 나타냄을 보이고, 이로부터 인가전압에 따른 흡수계수의 변화를 측정할 수 있는 방법을 제시하였다. 광전류 신호는 파장에 따라 공명 반공명을 반복해서 나타내며 그 진폭은 흡수계수의 크기에 의존하므로 전계에 따른 흡수계수의 변화량을 측정 할 수 있었고, 1.55 $\mu\textrm{m}$ 파장에서 역전압 1.5V 인가시 bulk in GaAsP의 흡수계수 변화는 대략 157cm-1임을 알 수 있었다.

Keywords

References

  1. IEEE Photon. Technol. Lett. v.8 R. Weinmann;D. Baums;U. Cebulla;H. Haisch;D. Kaiser;E. Kuhn;E. Lach;K. Satzke;J. Weber;P. Wiedemann;E. Zielinski
  2. IEEE Photon. Technol. Lett. v.9 N. Yoshimoto;T. Yamanaka;S. Kondo;Y. Noguchi;K. Wakita
  3. Proceedings of 8th European Conference on Integrated Optics (ECIO'97) H. Inoue;T. Ido;H. Sano;T. Kanetake
  4. Integrated Optics: Theory and Technology(3rd ed.) R. G. Hunsperger
  5. Electron. Lett. v.21 R. G. Walker
  6. J. Appl. Phys. v.78 K. H. Park;M. W. Kim;Y. T. Byun;D. Woo;S. H. Kim;S. S. Choi;Y. Chung;W. R. Cho;S. H. Park;U. Kim
  7. Appl. Phys. Lett. v.48 T. H. Wood
  8. Appl. Phys. Lett. v.64 L. S. Yu;Q. Z. Liu;S. A. Pappert;P.K.L. Yu;S.S. Lau
  9. IEEE J. Quantum Electron. v.34 D.A. Ackerman;L.M. Zhang;L. J-P. Ketelsen;J. E. Johnson
  10. Physical Properties of Ⅲ-Ⅴ Semiconductor Compounds S. Adachi
  11. Diode Lasers and Photonic Integrated Circuits L. A. Coldren;S. W. Corzine
  12. Electron. Lett. v.31 K. Yamada;H. Murai;K. Nakamura;Y. Matsui;Y. Ogawa