Abstract
In this paper, we designed and made the scanned point detecting system for 3-dimensional measurement of the light emitted from plasma display panel (PDP) , and we measured and analyzed 3-dimensional light emitted from a real PDP by using this scanned point detecting system. The scanned point detecting system has a point detector with a pinhole. The light emitted from the source at the in-focus position can pass through the pinhole and be collected by detector. The light from other sources at outof-focus positions is focused at points in front of or behind the pinhole, and thus it is intercepted by the pinhole. Therefore, we can detect light information from a particular point of a PDP cell of 3-dimensional structure. We know the electric field distribution inside the PDP cell from the 3-dimensionallight intensity distribution measured by using the scanned point detecting system. As the Z axial measurement increases, the intensity of light detected increases and intensity of light detected on the inside edge of the ITa electrode is larger than outside edge of the ITa eletrode and gap of the ITa electrodes. Also, as the measurement point moves from one barrier rib to another, the detected light is weaker near to the barrier ribs than at the center between the barrier ribs. The emitted light is concentrated at the center between barrier ribs. ribs.
플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel :PDP)에서 방출되는 광의 3차원 분포를 측정하기 위한 scanned point-detecting system(SPDS)을 고안하여 제작하였으며 이 시스템을 이용하여 실제 PDP의 3차원 광 방출 특성을 측정하고 해석하였다. SPDS는 상면에 핀홀이 달려 있는 광검출기(point detector)를 위치시킴으로써 특정 지점으로부터 방출되는 광만을 검출할수 있다. 3차원 물체의 특정 지점으로부터 방출된 광은 핀홀을 지나 검출기로 모두 입사되지만 다른 지점으로부터 방출된 광은 핀홀 앞에서 미리 집속되거나 핀홀 뒤에서 집속될것이므로 이러한 광들은 핀홀에 의해 대부분 차단될 것이다. 그러므로 물체의 특정 지점으로부터 방출된 광만이 핀홀이 설치된 검출기에 의해 검출되어 진다. SPDS를 이용하여 PDP cell 내에서 측정된 3차원 광 intensity 분포로부터 cellso의 방전현상을 다음과 같이 유추해낼수 있었다. Z축 측정이 진행될수록광의 intensity는 증가하였고 ITO전극의 안쪽부분에서 검출되는 광의 intensity가 가장 컸고 Y축 scan시 나타나는 X-Z평면에서 광의 intensity가 격벽과 격벽의 중심부분에서 가장 크게 나타났다.
